电镜系列

显微高光谱成像仪

显微高光谱成像仪主要用于获取样品微米及亚微米尺度的光谱和图像信号，以发展高通量、高时空分辨率光谱的分析工具，从而进行生物样品显微细胞光谱成像分析、荧光/拉曼探针分析、无标记检测等研究，用于为光谱探测、光电转化应用提供新平台。

电镜系列

扫描透射电子显微镜

STEM成像不同于一般的平行电子束TEM，EDS成像，它是利用会聚的电子束在样品上扫描来完成的。在扫描模式下，场发射电子源发射出电子，通过在样品前磁透镜以及光阑把电子束会聚成原子尺度的束斑。电子束斑聚焦在试样表面后，通过线圈控制逐点扫描样品的一个区域。在每扫描一点的同时，样品下面的探测器同步接收被散射的电子。对应于每个扫描位置的探测器接收到的信号转换成电流强度显示在荧光屏或计算机显示器上。样品上的每一点与所产生的像点一一对应。从探测器中间孔洞通过的电子可以利用明场探测器形成一般高分辨的明场像。环形探测器接受的电子形成暗场像。

电镜系列

扫描电子显微镜

扫描电子显微镜，具有出色的探测效率，能够轻松实现亚纳米分辨成像，适用于多种材料的高分辨成像与分析。无论是在高真空还是可变真空模式下，对任意样品进行成像时都具有更高的表面细节信息，，可获取各类样品在微观世界中清晰、真实的图像。为生命科学研究、工业实验室、成像平台、高校或研究机构提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微技术与解决方案。

电镜系列

冷冻透射电子显微镜

冷冻电子显微镜技术，也叫冷冻电镜技术，是在低温下使用透射电子显微镜观察样品的显微技术，即把样品冻起来并保持低温放进显微镜里面，用高度相干的电子作为光源从上面照下来，透过样品和附近的冰层，受到散射。再利用探测器和透镜系统把散射信号成像记录下来，最后进行信号处理，得到样品的结构。冷冻电镜技术作为一种重要的结构生物学研究方法，它与X射线晶体学、核磁共振一起构成了高分辨率结构生物学研究的基础。

电镜系列

倒置相差显微镜

倒置相差显微镜，是相差显微镜和倒置显微镜的结合，即既具有倒置显微镜的倒置观察方式，同时，成像原理则与相差显微镜成像原理相一致。

电镜系列

FIB双束扫描电镜

FIB双束扫描电镜是指同时具有聚焦离子束(FocusedIonBeam，FIB)和扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope，SEM)功能的仪器。它可以实现SEM实时观测FIB微加工过程的功能，把电子束高空间分辨率和离子束精细加工的优势集于一身。其中，FIB是将液态金属离子源产生的离子束经过加速，再聚焦于样品表面产生二次电子信号形成电子像，或强电流离子束对样品表面刻蚀，进行微纳形貌加工，通常是结合物理溅射和化学气体反应，有选择性的刻蚀或者沉积金属和绝缘层。